定位精度等的测长使用了超精密激光测量系统或者玻璃尺内置型数字测长器。
真直度(水平)、真直度(垂直)、横摆、俯仰的测量使用了可同时测量4个位移的本公司“真直度测量机STRAIGHTOR”或者超精密激光测量系统。
测量的数据分制造编号保管。
根据顾客要求,可在出厂时随附检查表。
□检查
利用超精密激光测量系统测量X平台的定位精度。
超精密激光测量系统可对微小进给中的定位精度等,进行亚微米级的精密测量。
另外,确立了可追溯性,保证了精度可以信赖。测量在恒温恒湿的检查室内进行。
X平台的控制使用本公司的“QT-A系列”控制器驱动器,利用连接的电脑上的本公司检查程序自动进行,以免发生人为的误差。