位置決め精度などの測長は超精密レーザー測定システム、または、ガラススケール内蔵型デジタル測長器を使用しています。
真直度(水平)、真直度(垂直)、ヨーイング、ピッチングの測定は4つの変位を同時測定できる当社「真直度測定機ストレーター」、または、超精密レーザー測定システムを使用しています。
測定されたデータは製造番号別に保管されます。
ご希望により工場出荷時に検査表を添付することができます。
□検査
超精密レーザー測定システムにより、Xステージの位置決め精度を測定しています。
超精密レーザー測定システムは微小送りでの位置決め精度などサブミクロンクラスの精密測定が可能です。
また、トレーサビリティが確立され、信頼できる精度を保証しています。測定は恒温恒湿度の検査室で行っています。
Xステージの制御には当社コントローラドライバ「QT-Bシリーズ」を使用し、接続したパソコンの当社検査プログラムにより、人為的誤差が生じないように、自動で行っています。